上海棱光雙折射儀應(yīng)力儀WYL-4
儀器簡介：
透明物體由于不均勻冷卻或其他如受機械作用等原因，其內(nèi)部會產(chǎn)生內(nèi)應(yīng)力，引起雙折射。晶體物質(zhì)本身具有雙折射的光學特征。WYL-4應(yīng)力儀采用偏振光電矢量合成及光學補償原理，通過對樣品的光程差的定量測定,確定樣品應(yīng)力雙折射的大小。本儀器能精確測定光學波片的光程差、確定光學玻璃的應(yīng)力級別,是光學儀器制造業(yè)不可缺少的儀器，也是研究晶體礦物質(zhì)的重要工具。用儀器途 ：
應(yīng)力儀是用來檢查透明物體內(nèi)應(yīng)力大小和分布狀況的儀器。不僅在光學玻璃、光學儀器、玻璃制品、塑料制品等工業(yè)得到廣泛應(yīng)用，而且在建材、燈具、制藥、飲料、工藝品安全防爆指標的檢驗方面也占有重要地位，在水晶飾品制作、地質(zhì)礦產(chǎn)、材料科學領(lǐng)域也有不少應(yīng)用。同時,本儀器也是各大專院校特別理想的教學實驗設(shè)備。
★ 直讀納米級光程差，無須計算。
★ 雙分視場零位檢測，靈敏度高。
★ 樣品工作臺45度自動定位。
★ 體積小巧,結(jié)構(gòu)緊揍。
★ 操作方便,可靠實。
★ 雙分視場零位檢測，靈敏度高。
★ 樣品工作臺45度自動定位。
★ 體積小巧,結(jié)構(gòu)緊揍。
★ 操作方便,可靠實。
|
技 術(shù) 參 數(shù) |
技術(shù)指標 |
|
單 色 光 波 長 |
589.44nm |
|
光 程 差 測 定范圍 |
± 590 nm |
|
度 盤 格 值 |
5nm |
|
最小讀數(shù)(1/5估讀) |
1nm |
|
儀 器 零 位 誤 差 |
±2nm |
|
波 片 讀 數(shù)重復(fù)性 |
1nm |
|
光 源 |
220V 20W低壓鈉燈 |
|
被 檢 樣品最大尺寸 |
寬度440mm；長度440mm；高度240 mm |
|
儀 器 尺 寸 （mm） |
413 ×250 ×400 |
|
重 量 |
凈重7kg 毛重8kg |